Thông báo Serminar "High Resolution Imaging and X-Ray Microanalysis in the FE-SEM" In
Viết bởi Admin   
Thứ ba, 02 Tháng 8 2016 15:21
Kính mời thầy cô tham dự buổi seminar do GS. Raynald Gauvin -  McGill University Montréal, Canada, với tiêu đề "High Resolution Imaging and X-Ray Microanalysis in the FE-SEMvào lúc 10h thứ ba ngày 09/08/2016 tại phòng hội thảo ITIMS, Trường Đại học Bách Khoa Hà Nội.
Abstract của bài trình bày: 
"The new generation of Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) can perform high resolution imaging with resolution better than 1 nm in the bulk mode and in the transmission mode. This research seminar will present new results for the characterization of various materials and nanomaterials obtained with the various cold field FE-SEM of the research group of Prof. Gauvin, including the new SU-8230 from Hitachi that has the auto flash mode, giving current stability. This FE-SEM has 1 SE lower detector, 2 SE upper detectors with various modes of energy filtration, a STEM detector that works in bright field and the FlashQuad SDD detector from Bruker with a solid angle of 1.2 Sr, allowing the mapping of particulates of few nanometers. Results in bulk mode and in transmission mode will be presented covering x-ray microanalysis, high resolution imaging of phases and defects, like dislocations and also EBSD in bulk and in the transmission mode."
Trân trọng,
Phòng KH viện ITIMS.
Lần cập nhật cuối ( Thứ ba, 09 Tháng 8 2016 09:28 )